一.报错类型

1.插上电后connection报错（如何connection:Debugging JTAG (ti.com)

中的Is the Target Configuration File correct?）

This error is generated by TI's USCIF driver or utilities.

The value is '-233' (0xffffff17).

The title is 'SC_ERR_PATH_BROKEN'.

The explanation is:

The JTAG IR and DR scan-paths cannot circulate bits, they may be broken.

An attempt to scan the JTAG scan-path has failed.

The target's JTAG scan-path appears to be broken

with a stuck-at-ones or stuck-at-zero fault.

2.或者能连接，也能下载普中的烧在ram的程序，但可能没输出。不能下载到flash中，错误为

C28xx: Error occurred during flash operation: Timed out waiting for target to halt while executing FlashAPIInterface28335V2_10.out

C28xx: Flash Programmer: Error encountered when writing to flash memory

C28xx: File Loader: Memory write failed: Unknown error

C28xx: GEL: File: C:\Users\29394\Documents\DSP\DSP8233x_ProjectExample\SR_2_Closeloop_Sys_Int_20230308_final\SR_2_Closeloop_Sys_Int_20230308\SR_2_Closeloop_copycap_1230\Debug\SR_2_Closeloop_Sys_Int_20230103.out: Load failed.

卡在界面

 

二.测试结果

1.配置无问题，连接器和芯片选择正确

2.供电正常，电源芯片无损坏，各点电源电位稳定。

3.复位正常，我用的复位芯片，注意复位芯片有监控电压，3.3V和5V的不要选错。

4.晶振能起振，无源晶振一旦芯片上电后，就能产生30MHZ的正弦波，且这个波形是正负都有的。

5.JTAG各个引脚点位正常，TMS,TDI,TCK为高电平，TDO为低电平。

三.分析原因

1.可能是程序问题导致芯片锁死，但能下载到开发板里且没被锁，排除。

2.可能是JTAG的引脚上下拉电阻不正确，对照了开发板和TI官方的板卡，与这个上下拉电阻关系不大，都是几千欧姆，排除。

四.最终结果

供电电源问题，供电电流不足，导致芯片下载程序时锁死报废，请好好计算自己的系统板的功率，一般输入电源设置为5V/1A足矣。

五.附上自己参考的

1.这个换了text下拉电阻

Compiler: error code " The value is '-233' (0xffffff17)" for F28069 chip via Jtag - Code Composer Studio forum - Code Composer Studio™︎ - TI E2E support forums

2. ​​修改PINADVICE MODEL

(6条消息) 280049LaunchPad仿真器连接不上的问题解决办法_Simon_cici的博客-CSDN博客

3.flash擦除

(6条消息) 一种解决C28xx: Flash Programmer: Error encountered when writing to flash memory问题的方法_c28xx error_我舍友是个小胖子的博客-CSDN博客

​​4.下面解释了可能是复位芯片的错误 

(6条消息) JTAG接口无法连接的问题_jtagice mkii连不上_jbb0523的博客-CSDN博客

5.​解决下载器不能烧录到flash中

28335程序可以在SRAM中运行，但是flash却无法烧写 - C2000™︎ 微控制器论坛 - C2000 微控制器 - E2E™ 设计支持 (ti.com)

 

 但很可惜，以上方法都没有对我的问题产生帮助，但教会了我一步步排查，最后锁定是电源供电问题，一定要足功率！！！但大多数人应该不会出现我的问题，仅供参考。